A simple model to analyze electron confinement and trapping in silicon nanodots

Juan A.López Villanueva, Juan A.Jiménez Tejada, Alberto Palma, Salvador Rodríguez Bolívar, Juan E. Carceller

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'A simple model to analyze electron confinement and trapping in silicon nanodots'. En conjunto forman una huella única.

INIS

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