A simple model to analyze electron confinement and trapping in silicon nanodots

  • Juan A.López Villanueva
  • , Juan A.Jiménez Tejada
  • , Alberto Palma
  • , Salvador Rodríguez Bolívar
  • , Juan E. Carceller

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'A simple model to analyze electron confinement and trapping in silicon nanodots'. En conjunto forman una huella única.

INIS

Physics