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Effect of doping in the current voltage characteristics of organic diodes

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

Resumen

We analyze the effects of doping, traps and other defects on the electronic properties of organic/polymeric diodes. We detect the presence of dopant atoms and traps in the semiconductor in experimental current density-voltage (j-V) curves by the comparison with numerical j-V curves. The transport equations are solved by means of the Lambert-W-function. The key parameter in the procedure is the boundary value for the free carrier density at the metal-organic interface.

Idioma originalInglés
Título de la publicación alojadaProceedings of the 2015 10th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2015
EditoresAngel Luis Alvarez Castillo, Ma. del Carmen Coya Parraga
EditorialInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (versión digital)9781479981083
DOI
EstadoPublicada - 16 abr. 2015
Publicado de forma externa
Evento10th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2015 - Aranjuez, Madrid, Espana
Duración: 11 feb. 201513 feb. 2015

Serie de la publicación

NombreProceedings of the 2015 10th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2015

Conferencia

Conferencia10th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2015
País/TerritorioEspana
CiudadAranjuez, Madrid
Período11/02/1513/02/15

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Effect of doping in the current voltage characteristics of organic diodes'. En conjunto forman una huella única.

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