Resumen
The electron capture cross section of deep neutral centers has been numerically calculated as a function of the applied electric field in SiO2. The inclusion of multiphonon capture probability together with the rest of the phonon mechanisms has been possible due to a Monte Carlo treatment. This numerical procedure has allowed a better understanding of the capture process at the microscopic level, and provides a suitable method for checking multiphonon theory in insulators.
| Idioma original | Inglés |
|---|---|
| Páginas (desde-hasta) | 2687-2690 |
| Número de páginas | 4 |
| Publicación | Journal of the Electrochemical Society |
| Volumen | 143 |
| N.º | 8 |
| DOI | |
| Estado | Publicada - 1 ene. 1996 |
| Publicado de forma externa | Sí |
ODS de las Naciones Unidas
Este resultado contribuye a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible
-
ODS 7: Energía asequible y no contaminante
Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Electric field dependence of the electron capture cross section of neutral traps in SiO2'. En conjunto forman una huella única.Citar esto
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