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Electric field dependence of the electron capture cross section of neutral traps in SiO2

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

20 Citas (Scopus)

Resumen

The electron capture cross section of deep neutral centers has been numerically calculated as a function of the applied electric field in SiO2. The inclusion of multiphonon capture probability together with the rest of the phonon mechanisms has been possible due to a Monte Carlo treatment. This numerical procedure has allowed a better understanding of the capture process at the microscopic level, and provides a suitable method for checking multiphonon theory in insulators.

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)2687-2690
Número de páginas4
PublicaciónJournal of the Electrochemical Society
Volumen143
N.º8
DOI
EstadoPublicada - 1 ene. 1996
Publicado de forma externa

ODS de las Naciones Unidas

Este resultado contribuye a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible

  1. ODS 7: Energía asequible y no contaminante
    ODS 7: Energía asequible y no contaminante

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Electric field dependence of the electron capture cross section of neutral traps in SiO2'. En conjunto forman una huella única.

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