Strained-Si on Si1-xGex MOSFET inversion layer centroid modeling

  • J. B. Roldán
  • , F. Gámiz
  • , J. A. López-Villanueva
  • , P. Cartujo
  • , A. Godoy

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

13 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Strained-Si on Si1-xGex MOSFET inversion layer centroid modeling'. En conjunto forman una huella única.

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